Account
Orders
Advanced search
This book provides a comprehensive overview of contemporary issues in complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) device design, describing how to overcome process-induced random variations such as line-edge-roughness, random-dopant-fluctuation, and work-function...
Les livres numériques peuvent être téléchargés depuis l'ebookstore Numilog ou directement depuis une tablette ou smartphone.
PDF : format reprenant la maquette originale du livre ; lecture recommandée sur ordinateur et tablette EPUB : format de texte repositionnable ; lecture sur tous supports (ordinateur, tablette, smartphone, liseuse)
DRM Adobe LCP
LCP DRM Adobe
Sign up to get our latest ebook recommendations and special offers