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Add to my wish list Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits J.C. Van Lenteren , M. L. Bushnell , V. D. Agrawal Today's electronic design and test engineers deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requiring different test and design for testability methods. This... Publication date: 2000 Format: PDF Publisher: Kluwer Academic Publishers Add to basket £176,71

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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits

J.C. Van Lenteren , M. L. Bushnell , V. D. Agrawal

Today's electronic design and test engineers deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requiring different test and design for testability methods. This...

Publication date: 2000

Format: PDF

Publisher: Kluwer Academic Publishers

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