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Add to my wish list A Designer's Guide to Built-In Self Test C. E. Stroud , L.S. Young A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test (BIST). This idea was first proposed around 1980 and has grown to become one of... Publication date: 2002 Format: PDF Publisher: Kluwer Academic Publishers Add to basket £109,60

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A Designer's Guide to Built-In Self Test

C. E. Stroud , L.S. Young