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Add to my wish list Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Gerd Kaupp Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in... Publication date: 2006-10-24 Format: PDF Publisher: Springer Collection: NanoScience and Technology Add to basket £179,50

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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Gerd Kaupp

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in...

Publication date: 2006-10-24

Format: PDF

Publisher: Springer

Collection: NanoScience and Technology

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£179,50

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