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Add to my wish list Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology Moises Padilla , J. Antonio Quiroga , Manuel Servin Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in... Publication date: 2014-05-30 Format: PDF, ePub Publisher: Wiley-VCH PDF ePub Add to basket £125,49

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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

Moises Padilla , J. Antonio Quiroga , Manuel Servin

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in...

Publication date: 2014-05-30

Format: PDF, ePub

Publisher: Wiley-VCH

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