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Add to my wish list Electromigration in Metals Martin Gall , Paul S. Ho , Chao-Kun Hu , Valeriy Sukharev Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring... Publication date: 2022-05-12 Format: PDF Publisher: Cambridge University Press Add to basket £82,29

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Electromigration in Metals

Martin Gall , Paul S. Ho , Chao-Kun Hu , Valeriy Sukharev

Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring...

Publication date: 2022-05-12

Format: PDF

Publisher: Cambridge University Press

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