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Add to my wish list VLSI Test Principles and Architectures Cheng-Wen Wu , Laung-Terng Wang , Xiaoqing Wen This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. - Most up-to-date coverage of design... Publication date: 2006-08-14 Format: PDF DRM-free Publisher: Morgan Kaufmann Add to basket £55,90

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VLSI Test Principles and Architectures

Cheng-Wen Wu , Laung-Terng Wang , Xiaoqing Wen

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. - Most up-to-date coverage of design...

Publication date: 2006-08-14

Format: PDF DRM-free

Publisher: Morgan Kaufmann

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